主要特性： 在測試端口處保持125dB動態(tài)范圍（典型值） 掃描速度：9.6微秒/點(diǎn) 跡線噪聲：0.001dBrms 集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力 夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換 用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式 內(nèi)置VisualBasic forApplications（VBA） 產(chǎn)品概述： 頻率范圍：E5070B300KHz-3GHz E5071C300KHz-8.5GHz AgilentENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀能為研發(fā)評估和生產(chǎn)測試完成快速、精確的射頻元件測量。 E5070B型和E5071B型都具有一體化的2、3或4個測試端口，從而能對從2端口濾波器 到多端口器件如雙工器和耦合器的各種元件進(jìn)行測量。ENA系列提供內(nèi)置平衡測量、匹配電 路模擬和端口特性阻抗變和差動放大器給出精確測量結(jié)果。這些綜合測試能力可以進(jìn)行快速、 精確的測量并提高工作效率。 訂貨信息： E507 B 008頻偏模式 E507 B 010時域分析能力 E507 B 2142端口S參數(shù)測試裝置 E507 B 3143端口S參數(shù)測試裝置 E507 B 4144端口S參數(shù)測試裝置 E507 B 016觸摸屏彩色LCD E507 B 1E5高穩(wěn)定度頻率基準(zhǔn) 附件： 校準(zhǔn)件HP85033D/E(3.5mm) 校準(zhǔn)件HP85032B(N型)