1概述 我公司根據(jù)國內(nèi)外冶金、地質(zhì)等相關(guān)企業(yè)對礦產(chǎn)品品位快速分析的市場需求，合作開發(fā)了一系列監(jiān)測生產(chǎn)過程的分析檢測儀器。其中AD3000便攜式X熒光分析儀是集當(dāng)今最新電子技術(shù)、計算機技術(shù)和核分析方法于一體，具有微機化程度高、人機界面友好、分析精度高、分析速度快、性能價格比高等特點，成為相關(guān)企業(yè)進(jìn)行生產(chǎn)控制和科學(xué)研究的首選設(shè)備。適用于各有色、黑色礦山、選礦廠、冶煉廠、購礦企業(yè)、質(zhì)檢站進(jìn)行現(xiàn)場快速測量分析和地質(zhì)勘探、作巖礦露頭現(xiàn)場測量、鉆孔巖蕊直接測量、坑道井壁測量和室內(nèi)粉末測量. 2測量原理 X光管產(chǎn)生的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子，當(dāng)外層電子補充內(nèi)層電子時，會放出該原子所固有能量的X射線，稱之為特征X射線（X熒光）。各種元素的原子受激發(fā)后，在退激過程中放出的特征X射線能量各不相同，例如鐵的特征X射線（FeKα）能量為6.4KeV,銅的特征X射線(CuKα)能量為8.0KeV等等,依次可進(jìn)行定性分析。在一定條件下，特征X射線的強度與元素含量（品位）成正比，依此可進(jìn)行定量分析。對于半無限大空間飽和厚度，并且表面均勻的樣品，當(dāng)二次熒光可以忽略時，目標(biāo)元素的特征X射線強度（IK）可以用下式表示：IK=KI0Ck/(μ0/sinφ+μK/sinψ)式中：K為與探測器的激發(fā)效率有關(guān)的常數(shù)；I0為入射射線強度；Ck為目標(biāo)元素的含量；μ0為入射射線在樣品中的質(zhì)量吸收系數(shù)；μK為特征X射線在樣品中的質(zhì)量吸收系數(shù)；φ為入射射線與樣品表面間的夾角；ψ為特征射線與樣品表面間的夾角。這是X射線熒光分析最基本理論公式。在實際樣品分析時，由于樣品中物質(zhì)成分差異，還應(yīng)考慮基體效應(yīng)校正，才能得到正確的結(jié)。 3主要特點可直接對現(xiàn)場塊礦、礦壁進(jìn)行測量，也可以對測量粉末直接或制樣測量。一體化設(shè)計，性能穩(wěn)定，運行可靠，性價比高.全中文應(yīng)用軟件，操作簡單，測量時間短.采用1024道多道分析器；分析元素：S、Ca、Ti、V、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Sn、W、Mo、Sr、Zr等.采用Si(Li)半導(dǎo)體探測器，能量分辨率高：優(yōu)于150eV(55Fe).分析范圍：0.01%-99.9%測量范圍：2-30kev.重復(fù)性： 0.1%.穩(wěn)定性： 0.01%.測量時間： 200S.整機功耗：4W.儀器重量：3.5Kg； 4儀器成套組成本產(chǎn)品主要包括以下部分：①儀器主機.②包裝箱.③附件.