4156C精密半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀是Agilent下一代的精密半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀，4156C為高級(jí)器件表征提供了高精度頂級(jí)參數(shù)分析的實(shí)驗(yàn)室平臺(tái)。較高的低電流、低電壓分辨率和內(nèi)置準(zhǔn)靜態(tài)CV測(cè)量能力，4156C還為以后和其他的測(cè)量?jī)x器的擴(kuò)展使用提供了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。41501B擴(kuò)展測(cè)量能力到1A/200V，并給4156C增加一個(gè)低的噪聲接地單元和雙脈沖發(fā)生器。4156C是基于PC的參數(shù)分析和表征的解決方案，標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)參數(shù)分析儀，AgilentI/CV3.0Lite自動(dòng)測(cè)試軟件，WindowsXPProfessional的操作系統(tǒng)。I/CV3.0Lite軟件可以提供一個(gè)圖形操作界面，具有強(qiáng)大的分析工具，探針臺(tái)驅(qū)動(dòng)，和自動(dòng)測(cè)試工具。 特性 4156C提供4個(gè)內(nèi)置的高分辨率的源/監(jiān)控單元（HPSMUs），兩個(gè)電壓源單元（VSUs）和兩個(gè)電壓監(jiān)控單元（VMUs） 1fA和0.2uV的測(cè)試精度可滿足開發(fā)新工技術(shù)和評(píng)價(jià)材料 全Kelvin，每個(gè)HRSMU有激勵(lì)源、感應(yīng)和接地端 完成準(zhǔn)靜態(tài)的電容對(duì)電壓測(cè)試 自動(dòng)提取處理參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標(biāo) 用極低泄漏的SMUs測(cè)量特有泄露特性 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關(guān)自動(dòng)完成器件表征 用內(nèi)置的應(yīng)力模式完成晶片的可靠性測(cè)試 用圖形用戶界面完成 點(diǎn)擊 測(cè)試 基于Windows環(huán)境的圖形數(shù)據(jù)分析能力 旋鈕掃描功能可以快速檢驗(yàn)探針是否接觸正常 待機(jī)模式不需要外部電源 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測(cè)試。 IBASIC用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。