*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。平行平晶技術(shù)要求組別兩工作面的平行度工作面的平面度2/3d范圍內(nèi)的平面度I、II0.60.10.05III0.80.10.05IV1.00.10.0515.62，15.7515.87，16.0040.62，40.7540.87，41.0065.62，65.7565.87，66.0090.62，90.7590.87，91.00