成套兩探針測(cè)試儀型號(hào)：KDK-KDY-2產(chǎn)品名稱(chēng)：成套兩探針測(cè)試儀(測(cè)鍺錠專(zhuān)用)產(chǎn)品型號(hào)：KDK-KDY-2生產(chǎn)廠(chǎng)商：北京恒奧德儀器儀表有限公司產(chǎn)品編號(hào)：產(chǎn)品單價(jià)：所屬欄目：熱賣(mài)產(chǎn)品產(chǎn)品簡(jiǎn)介 KDK-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法 兩探針?lè)?設(shè)計(jì)。它適合于測(cè)量模截面尺寸是可測(cè)量的，而且棒的長(zhǎng)度大于橫截面線(xiàn)度的有規(guī)則的長(zhǎng)棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長(zhǎng)方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針?lè)ǖ臏y(cè)量電流是從長(zhǎng)棒兩端進(jìn)出，遠(yuǎn)離電壓測(cè)量探針，因此電流流過(guò)金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對(duì)測(cè)量的影響較小，因此兩探針?lè)ǖ臏y(cè)量精度一般優(yōu)于四探針?lè)āＬ貏e是對(duì)多晶材料的測(cè)量，由于多晶晶粒間界處，雜質(zhì)局部偏析可能導(dǎo)致電阻率較大變化，這種影響對(duì)四探針?lè)ǜ鼮閲?yán)重，故不推薦用四探針?lè)y(cè)量多晶材料的電阻率。本儀器除適合測(cè)量體形有規(guī)則的單晶棒外，也適合測(cè)量多晶棒。兩探針?lè)y(cè)量水平區(qū)熔多晶鍺電阻率，在我國(guó)已有四十多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，對(duì)區(qū)熔鍺錠橫截面面積的變化已總結(jié)出一套計(jì)算方法，本儀器采用李賀成教授提出的計(jì)算公式編寫(xiě)程序，可用微機(jī)HQ-710C處理區(qū)熔鍺錠的測(cè)量數(shù)據(jù)，或采用KDK-KDY測(cè)量系統(tǒng)專(zhuān)用軟件測(cè)量數(shù)據(jù)，并根據(jù)北京有色金屬研究總院余懷之教授的提議，擴(kuò)大了微處理機(jī)的數(shù)據(jù)處理范圍。